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四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐

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四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐

发布用户:Bgjy 时间:2021-09-17 07:46

四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐

四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐


四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求

便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;

基本设置操作简单,方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果;多种参数同时显示。

精度高:电阻基本准确度: 0.05%;方阻基本准确度:3%;电阻率基本准确度:3%

整机测量大相对误差:≤±3%;整机测量标准不确定度:≤±3%

四位半显示读数;八量程自动或手动测试;

测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;

正反向电流源修正测量电阻误差

恒流源:电流量程分为: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档;仪器配有恒流源开关可有效保护被测件,即先让探针头压触在被测材料上,后开恒流源开关,避免接触瞬间打火。为了提高工作效率,如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时,恒流源开关可一直处于开的状态。

可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。

校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。

厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。

自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。

双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.

具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。

比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。

3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。

丰富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据

软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分

析。

标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。

四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量

进入测试功能界面如图4、图5;如测试方阻时,请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻",则进入方阻测试界面;如测试其他材料时,请选择“材料"则进入材料电阻,电阻率,电导率测试仪界面。

配置手动粉末测试装置也可以(选购)自动粉末测试装置,测试粉末时可以通过装置获得粉末压实后高度、直径、压强等数据,输入仪器后自动计算出所需数据.能方便解决粉末及颗粒物料电阻、电阻率及电导率测量需求,经济实惠,功能突出,设计合理,是粉末行业理想之测试仪器.

GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

人员资格本仪器为精密仪器,由训练合格的人员使用和操作。

待参数设置完毕,开始测量,把测试获得的数据写入试验报告中

分辨率: 小1μΩ

接口:可选择“USB"和“232"两种模式。根据用户使用的接口类型进行选择。

四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐

电导率:5×10-6~1×108ms/cm

四探针电阻率检测仪步骤及流程开启电源,预热5分钟.装配好探头和测试平台.设定所需参数.测量样品导出数据.

电导率:5×10-6~1×108ms/cm

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

接口:可选择“USB"和“232"两种模式。根据用户使用的接口类型进行选择。

四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐

人员资格本仪器为精密仪器,由训练合格的人员使用和操作。

优点描述:自动量程双电组合测试方法标准电阻校准仪器PC软件运行同时显示电阻、电阻率、电导率数据.可显示5位有效数字.

使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购

产品特点:四探针:一次测量,显示完整电阻率值。采用了独特的恒流源技术,能够满足宽范围的电阻率测试要求

本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。

材料电阻测试步骤:操作步骤及流程

四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐

电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量依据不同之测试样品,选择被测试电流,电流设置:按方向键移动光标至“电流"功能,按“设置"键进入;再按“左右"方向键选择电流数据,选择完毕后按“确定"键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.

医学规定不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。

本机可以依据不同测试产品选择配置不同的测试治具,以下举例操作说明准备好被测物,链接好测试探头,把测试探头接口与主机接口相连接,并锁定,防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.

安全守则操作人员随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。

四探针电阻率检测仪适用范围:覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

安全守则操作人员随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。

GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐

轻拿轻放,避免仪器震动,水平放置,垂直测量

注意事项:仪器不使用时请切断电源,连接线无需经常拔下,避免灰尘进入航空插引起短接等现象,

电阻测量范围: 电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、

产品特点:四探针:一次测量,显示完整电阻率值。采用了独特的恒流源技术,能够满足宽范围的电阻率测试要求

主机外形尺寸:330mm*350mm*110mm

GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

电 阻:1×10-5~2×105Ω

GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

四探针电阻率测试仪(双电)报价临朐

如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。

取试样,试样试验前的处理依据标准进行,

测量精度±(0.1%读数)

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。在计算机控制下进行两次电测量,能自动样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正,测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。

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